SEM-EDS分析
光电联用,
滤膜分析,
操作模式,
能谱和材料数据库
JOMESA PSE:材料分析 |
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光学显微镜: JOMESA HFD 颗粒的快速计数与分类 按金属，非金属和纤维进行分类 |
扫描电子显微镜和能谱仪SEM-EDS: JOMESA PSE 独特的SEM图像 能谱分析以测定合金 |
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最大金属颗粒（光学图） |
最大非金属颗粒（光学图） |
最大金属颗粒（SEM细节图） |
最大非金属颗粒（SEM图） |
光电联用的优势：
光学分析能快速、低成本，呈现相关颗粒。
光学系统和SEM-EDS系统公用一个数据库 。
同一套软件，同一个用户界面。
利用光学分析结果可以快速进行相关颗粒的材料（能谱）分析。
分析报告可同时包含两套系统的结果。