玻璃上盖合上后的滤膜

快速便捷的滤膜固定装置

烘干后，滤膜不平整，出现翘曲。然而，显微镜系统受限于景深，即便是HFD（长景深）显微镜系统，对于毫米级的滤膜高度变化也是无能为力，并出现误判。
我们标准的滤膜托架自带一个玻璃上盖，将其盖于滤膜上面后，滤膜会被压平整。同时也确保了滤膜在测量过程中不会滑动。

分析完成后拿掉玻璃上盖，滤膜上的颗粒会粘在玻璃上：滤膜上颗粒数量发生改变，因此该滤膜无法重复测量。

此类型的滤膜托架能平整滤膜，确保扫描过程中滤膜不会发生滑动。通过采用一种精巧的设计和加工，滤膜可以被拉伸固定在鼓式托架上（类似于鼓面的固定）。此方法不再需要使用玻璃上盖，并且滤膜可放置在其他分析仪器中测量（如REM-EDX）

为HFD型零部件清洁度分析系统专门设计的鼓式滤膜托架

为6工位HFD型零部件清洁度分析系统专门设计的鼓式滤膜托架

为MAT3型油品清洁度分析系统专门设计的鼓式滤膜托架

为4工位MAT3型油品清洁度分析系统专门设计的鼓式滤膜托架

颗粒收集器用于测试（生产）环境的清洁度。常见颗粒收集器会采用粘性表面（粘纸），用于收集颗粒。
未使用前的粘性表面盖着一层保护膜或保护纸。使用前，除去保护膜，把粘性面暴露在环境中，颗粒会粘附在上面。搜集时间结束后，盖上塑料盖，将其转移至清洁度实验室。
JOMESA HFD型清洁度自动分系统有专门开发一套用于放置颗粒收集器的托架，把收集器放到托架上即可。
此方法仅限于粘性滤膜收集器使用，不适用于直接把滤膜放到培养皿等器材里，因为滤膜本身无粘性，在扫描过程中会在培养皿内滑动，造成成像异常。

使用时将颗粒收集器盖打开，除去表面保护膜，将其暴露在环境中。

收集完成后，盖上盖子，将其转移到实验室进行分析。

把颗粒收集器放到JOMESA HFD型清洁度自动分析系统的专用托架上即可进行分析。（分析时拿掉盖子）