玻璃上盖合上后的滤膜

快速便捷的滤膜固定装置

烘干后，滤膜不平整，出现翘曲。然而，显微镜系统受限于景深，即便是HFD（长景深）显微镜系统，对于毫米级的滤膜高度变化也是无能为力，并出现误判。

分析完成后拿掉玻璃上盖，滤膜上的颗粒会粘在玻璃上：滤膜上颗粒数量发生改变，因此该滤膜无法重复测量。

此类型的滤膜托架能平整滤膜，确保扫描过程中滤膜不会发生滑动。通过采用一种精巧的设计和加工，滤膜可以被拉伸固定在鼓式托架上（类似于鼓面的固定）。此方法不再需要使用玻璃上盖，并且滤膜可放置在其他分析仪器中测量（如SEM-EDS）。

用于光学HFD应用的鼓式拉伸：滤膜的背景是塑料的，因此可以对滤膜进行评估，而不会产生背景干扰。

为HFD型零部件清洁度分析系统专门设计的鼓式滤膜托架

为6工位HFD型零部件清洁度分析系统专门设计的鼓式滤膜托架

为MAT3型油品清洁度分析系统专门设计的鼓式滤膜托架

为4工位MAT3型油品清洁度分析系统专门设计的鼓式滤膜托架

未使用前的粘性表面盖着一层保护膜或保护纸。使用前，除去保护膜，把粘性面暴露在环境中，颗粒会粘附在上面。搜集时间结束后，盖上塑料盖，将其转移至清洁度实验室。

然后将颗粒捕集器插入颗粒捕集器支架，并在JOMESA HFD系统上进行分析。

使用时将颗粒收集器盖打开，除去表面保护膜，将其暴露在环境中。

收集完成后，盖上盖子，将其转移到实验室进行分析。

把颗粒收集器放到JOMESA HFD型清洁度自动分析系统的专用托架上即可进行分析。（分析时拿掉盖子）

适用于最大直径为90mm的滤膜

适用于最大直径为142mm的滤膜 (需要4工位或6工位, 分析直径最大134mm)