JOMESA Meßsysteme GmbH

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Bildanalyse System PicEd Cora: 
Mikroskopie von Leiterplattenschliffen

 

Die PicEd Cora Bildanalyse und die darauf aufsetzende Bild Datenbank wird bei vielen Leiterplattenherstellern zur Analyse von Leiterplattenschliffen und deren Archivierung verwendet.

Die Vorteile unseres System in diesen Anwendungen:

Bei Routine Arbeiten (z.B. Vermessung von Bohrlocheigenschaften, Lagenaufbau)

Bei aufwendigen Untersuchungen (z.B. Zusammensetzung des Gesamtbildes eines Bohrlochs aus Einzelbildern)

Bei der Prozessüberwachung (Excel Statistiken von Meßgrößen z.B. der Bohrrauhigkeit)

Bei der Berichtserstellung der Messung, Kommunikation via e-mail

Bei der Archivierung (und Wiederauffindung) der Schliffdaten.